国产性70yerg老太,色综合在,国产精品亚洲一区二区无码,无码人妻束缚av又粗又大

基本信息

項(xiàng)目名稱:
基于AT89C51單片機(jī)的數(shù)字集成電路測(cè)試儀
小類:
信息技術(shù)
簡(jiǎn)介:
測(cè)試系統(tǒng)主要用于對(duì)20余種74系列的數(shù)字集成電路的功能正常與否進(jìn)行測(cè)試。系統(tǒng)由控制及測(cè)試電路、上位機(jī)通信兩部分組成??刂萍皽y(cè)試部分以單片機(jī)AT89C51為核心處理器,上位機(jī)通信部分由Vb編寫(xiě)的可視化用戶界面,兩者靠電平轉(zhuǎn)換電路 MAX232 通信。
詳細(xì)介紹:
該測(cè)試儀采用硬件電路與軟件設(shè)計(jì)相結(jié)合,經(jīng)串口線與電腦連接。通過(guò)鼠標(biāo)操作可以對(duì)常用74系列數(shù)字集成電路(目前可實(shí)現(xiàn)20余種)功能正常與否做出判斷。測(cè)試儀能識(shí)別和適應(yīng)不同芯片的引腳,利用單片機(jī)與PC機(jī)之間的通信將所測(cè)試結(jié)果以可視化界面實(shí)時(shí)顯示到電腦屏幕上。 在高校電子信息類基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,對(duì)74系列數(shù)字集成電路使用量非常大,使用中不可避免會(huì)造成部分芯片的損壞。為了回收器件重復(fù)使用,節(jié)約實(shí)驗(yàn)成本,提高器件使用效率,減少資源浪費(fèi),非常需要有低成本、使用方便的集成電路的測(cè)試儀,用于測(cè)試、判斷芯片的功能,該測(cè)試儀就是針對(duì)這一實(shí)際需求而設(shè)計(jì),該測(cè)試儀硬件成本不超過(guò)20元,而市面上此類測(cè)試儀價(jià)格達(dá)數(shù)千元至數(shù)萬(wàn)元。 該作品充分體現(xiàn)了方便、快捷、節(jié)省資源、操作簡(jiǎn)單、性價(jià)比高,并可視化等優(yōu)點(diǎn)??蓮V泛應(yīng)用于各大高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)中74系列數(shù)字集成電路的檢測(cè)回收,具有廣闊的市場(chǎng)前景。

作品圖片

  • 基于AT89C51單片機(jī)的數(shù)字集成電路測(cè)試儀
  • 基于AT89C51單片機(jī)的數(shù)字集成電路測(cè)試儀
  • 基于AT89C51單片機(jī)的數(shù)字集成電路測(cè)試儀
  • 基于AT89C51單片機(jī)的數(shù)字集成電路測(cè)試儀
  • 基于AT89C51單片機(jī)的數(shù)字集成電路測(cè)試儀

作品專業(yè)信息

設(shè)計(jì)、發(fā)明的目的和基本思路、創(chuàng)新點(diǎn)、技術(shù)關(guān)鍵和主要技術(shù)指標(biāo)

作品設(shè)計(jì)及發(fā)明目的:在高校電子信息類基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,對(duì)74系列數(shù)字集成電路使用量非常大。但學(xué)生使用中不可避免會(huì)造成部分芯片的損壞,而表面上卻無(wú)法做出正確的判斷。為了節(jié)約實(shí)驗(yàn)成本,提高器件使用效率,減少資源浪費(fèi),非常需要有低成本、使用方便的集成電路的測(cè)試儀,用于測(cè)試、判斷芯片的好壞。而市面上此類測(cè)試儀價(jià)格昂貴(通常數(shù)千元至數(shù)萬(wàn)元)。針對(duì)這一實(shí)際需求,申報(bào)者設(shè)計(jì)制作了可用于一些特定74系列數(shù)字集成電路的測(cè)試儀。 基本思路:系統(tǒng)主要由控制及測(cè)試、上位機(jī)通信兩部分組成。控制及測(cè)試部分以單片機(jī)AT89C51為核心組成,上位機(jī)通信部分由Vb編寫(xiě)的可視化用戶界面和電平轉(zhuǎn)換電路 MAX232 組成。創(chuàng)新點(diǎn):該系統(tǒng)能夠快速的對(duì)芯片的好壞做出正確的判斷,更為直觀的是節(jié)省資源,操作簡(jiǎn)單,產(chǎn)品性價(jià)比高,并具有可視化用戶界面等創(chuàng)新點(diǎn)。 技術(shù)關(guān)鍵及技術(shù)指標(biāo):測(cè)試儀能夠適應(yīng)20種74系列不同引腳、不同功能數(shù)字集成電路的測(cè)試。但必須對(duì)每種芯片設(shè)定相應(yīng)的硬件電路以及測(cè)試程序,達(dá)到軟硬件結(jié)合,這是設(shè)計(jì)的關(guān)鍵點(diǎn)。以單片機(jī)AT89C51為核心,通過(guò)串口與下位機(jī)通信,達(dá)到電腦與單片機(jī)之間信息交換的功能,該系統(tǒng)能對(duì)常用的20種74系列數(shù)字集成電路做出準(zhǔn)確快速的功能檢查。

科學(xué)性、先進(jìn)性

采用合理的硬件電路,結(jié)合單片機(jī)AT89C51進(jìn)行編程實(shí)現(xiàn),各芯片采用獨(dú)立、特定的算法將其與相應(yīng)的硬件電路有機(jī)的結(jié)合起來(lái),能夠有效、可靠地將其正?;驌p壞的結(jié)果判斷出來(lái),通過(guò)串口通信將結(jié)果反映到上位機(jī)界面,經(jīng)上位機(jī)界面處理后通過(guò)pc機(jī)可視化的顯示出來(lái)。反饋給使用者。該系統(tǒng)造價(jià)低,性能可靠,具有廣闊的市場(chǎng)前景,尤其是對(duì)起初接觸電子專業(yè)的人群非常適應(yīng)。目前市場(chǎng)上同類產(chǎn)品的造價(jià)很高,推廣使用受成本限制。

獲獎(jiǎng)情況及鑒定結(jié)果

該作品的設(shè)計(jì)研究論文《基于AT89C51的數(shù)字集成電路測(cè)試儀的設(shè)計(jì)》,已發(fā)表在《電子質(zhì)量》雜志2010年08期,ISSN:1003-0107;CN:44-1038/TN。并得到廣泛好評(píng)。

作品所處階段

實(shí)驗(yàn)室階段

技術(shù)轉(zhuǎn)讓方式

專利出售

作品可展示的形式

實(shí)物,現(xiàn)場(chǎng)演示,圖片

使用說(shuō)明,技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì),適應(yīng)范圍,推廣前景的技術(shù)性說(shuō)明,市場(chǎng)分析,經(jīng)濟(jì)效益預(yù)測(cè)

使用方法: 1)將芯片插入下位機(jī)的插槽中,用鼠標(biāo)點(diǎn)擊可視化界面上待測(cè)試芯片的型號(hào),就可以對(duì)74系列的各種數(shù)字集成74LS00/74LS02/74LS04/74LS08/74LS10/74LS11/74LS20/74LS21/74LS27/74LS30/74LS74/74LS109/74LS160/74LS245等十幾種組合邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測(cè)試,確定其功能正確性。 2)可通過(guò)電腦顯示上述芯片的好壞; 3)根據(jù)芯片好壞顯示軟件彈出一個(gè)對(duì)話框 “芯片完好,可以正常使用!”或軟件彈出一個(gè)對(duì)話框“芯片已損壞,不能使用!”等結(jié)果。 技術(shù)優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn):方便、快捷檢測(cè)出芯片是否正常的信息并及時(shí)給使用者反饋回來(lái),造價(jià)低廉,容易實(shí)現(xiàn)。 適應(yīng)范圍及推廣前景:適應(yīng)各大高等院校的電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)室使用。 市場(chǎng)分析和經(jīng)濟(jì)效益預(yù)測(cè):具有廣闊的市場(chǎng)前景,適應(yīng)群體廣,并且成本低,若能做出成品必然能夠得到很好的效益。

同類課題研究水平概述

從前對(duì)市場(chǎng)調(diào)查來(lái)看,雖然有類似產(chǎn)品推出,但其大多數(shù)是對(duì)某些特定的芯片進(jìn)行測(cè)試,并且造價(jià)昂貴,但對(duì)于初學(xué)者而言,74系列芯片意味著開(kāi)起電子世界之門的鑰匙,并且數(shù)字集成電路應(yīng)用廣泛,尤其是74系列芯片占據(jù)電子學(xué)科的重要地位。在產(chǎn)品研發(fā)、實(shí)驗(yàn)教學(xué)中常常有大量這類器件需要進(jìn)行功能檢測(cè),以提高產(chǎn)品的成品率,或者對(duì)功能正常的芯片再次利用?;诖耍詥纹瑱C(jī)AT89C51為核心設(shè)計(jì)了數(shù)字集成電路測(cè)試儀。本測(cè)試儀能對(duì)常用數(shù)字集成電路功能正常與否做出快速判斷,通過(guò)用Vb語(yǔ)言編寫(xiě)的可視化用戶程序,只需在電腦上通過(guò)鼠標(biāo)操作就能對(duì)芯片做出快速檢測(cè),可檢測(cè)的芯片包括:門電路74LS00/08/02/20/21/04/06/10,組合邏輯電路74LS138/151/153/47/48/248,時(shí)序電路74LS160/161/162/194/76/112等。和類似的集成電路測(cè)試儀相比,該測(cè)試儀體積小巧,成本很低,操作簡(jiǎn)單,性能可靠,更適合實(shí)驗(yàn)室使用。
建議反饋 返回頂部