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基本信息
- 項(xiàng)目名稱：
- 集成電路開短路測試
- 小類：
- 信息技術(shù)
- 大類：
- 科技發(fā)明制作B類
- 簡介：
- 本集成電路開短路測試主要用于MC34063檢測
- 詳細(xì)介紹：
- 本次設(shè)計(jì)針對(duì)測試集成電路的開短路。作品設(shè)計(jì)以AT89S52,兩個(gè)CD4051，一個(gè)待測芯片MC34063為主，用AT89S52來控制CD4051輸入引腳從而使得輸出其中一個(gè)引腳，此引腳用來連接被側(cè)的其中一個(gè)引腳。34063芯片測試儀基本功能是集成電路的開短路測試、基準(zhǔn)...(查看更多)
作品圖片
作品專業(yè)信息
設(shè)計(jì)、發(fā)明的目的和基本思路、創(chuàng)新點(diǎn)、技術(shù)關(guān)鍵和主要技術(shù)指標(biāo)
- 目的：本次設(shè)計(jì)針對(duì)測試集成電路的開短路。 基本思路：作品設(shè)計(jì)以AT89S52,兩個(gè)CD4051，一個(gè)待測芯片MC34063為主，用AT89S52來控制CD4051輸入引腳從而使得輸出其中一個(gè)引腳，此引腳用來連接被側(cè)的其中一個(gè)引腳。 創(chuàng)新點(diǎn)：3...(查看更多)
科學(xué)性、先進(jìn)性
- 對(duì)集成電路廠家來說，開短路測試(open short test)是集成電路生產(chǎn)商必須具備的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，關(guān)系到企業(yè)的生存。本次設(shè)計(jì)主要是針對(duì)工業(yè)生產(chǎn)中對(duì)MC34063芯片的開短路測試。
獲獎(jiǎng)情況及鑒定結(jié)果
- 無
作品所處階段
- 原理實(shí)現(xiàn)、技術(shù)成熟、測試成功
技術(shù)轉(zhuǎn)讓方式
- 不轉(zhuǎn)讓
作品可展示的形式
- 圖片、視頻
使用說明,技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì),適應(yīng)范圍,推廣前景的技術(shù)性說明,市場分析,經(jīng)濟(jì)效益預(yù)測
- 技術(shù)特點(diǎn)：用于測試開短路。 優(yōu)勢(shì)：構(gòu)造簡單，使用方便，能夠在短暫的時(shí)間來測試一個(gè)芯片的好使。 適應(yīng)范圍：適應(yīng)在一個(gè)廠家來測試芯片，從而來推廣在各個(gè)廠家。 推廣前景：由于我們?cè)O(shè)計(jì)的集成電路測試使用簡單，所以一定...(查看更多)
同類課題研究水平概述
- 著名科學(xué)家愛因斯坦給卓別林的信中曾寫道：“你的電影《摩登時(shí)代》，世界上的每一個(gè)人都能看懂。你一定會(huì)成為一個(gè)偉人。”卓別林回信道：“我更加欽佩你。你的相對(duì)論世界上沒有人能弄懂，但是你已經(jīng)成為一個(gè)偉人?！痹谧蛱煺匍_的中國杭州集成電路國際論壇上，國際歐亞科學(xué)院院士、原...(查看更多)
