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作品名稱:XENON100暗物質(zhì)探測(cè)實(shí)驗(yàn)中的雜質(zhì)光電離信號(hào)及其鑒別方法研究
作品大類(lèi):自然科學(xué)類(lèi)學(xué)術(shù)論文
作品來(lái)源:第十二屆“挑戰(zhàn)杯”作品
作品簡(jiǎn)介： 作者在XENON100暗物質(zhì)探測(cè)實(shí)驗(yàn)中，首次發(fā)現(xiàn)雜質(zhì)的光電離機(jī)制并建立了雜質(zhì)的光電離模型，揭示了實(shí)驗(yàn)中一類(lèi)噪音信號(hào)的物理機(jī)制，解決了長(zhǎng)期困擾合作組的中子散射模擬問(wèn)題，降低了中子本底及其測(cè)量誤差；首次通過(guò)模擬給出了低能信號(hào)觸發(fā)效率的正確計(jì)算結(jié)果；評(píng)估了探測(cè)器的非線性響應(yīng)對(duì)雜質(zhì)Kr85測(cè)量結(jié)果的影響。這些工作有效提高了該實(shí)驗(yàn)探測(cè)暗物質(zhì)的靈敏度和準(zhǔn)確度。
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